彩電高壓電源失壓檢測電路如下圖所示。該電路為單路電壓欠壓、失壓檢測電路，大多用到電壓較高的被檢測電路中。在下圖(a)電路中，被檢測電壓通過r5、r6分壓電路，接到pnp檢測管vt1的基極；被檢測電壓正常時，r6上端電壓高于檢測管的發射極電壓，通過r2加到檢測管的基極，檢測管vt1截止，不向電壓翻轉電路送啟動觸發電壓；當被檢測電源發生開路造成失去電壓或負載電路短路造成電壓過低時，r6上端電壓降低，通過r2使檢測管vt1基極電壓低于發射極電壓，檢測管vt1導通，其導通后的集電極c電壓通過隔離電阻r4，將電壓加到電壓翻轉電路，致使保護電路動作，進入保護狀態。
　　
　　在下圖(b)電路中，被檢測電壓通過r5、r6分壓電路，接到pnp檢測管vt1的基極，其發射極接微處理器的“pro”引腳。被檢測電壓正常時，r6上端電壓高于檢測管的發射極電壓，通過r2加到檢測管的基極，檢測管vt1截止，vt1的發射極為高電平，微處理器的“pro”引腳保持高電平，不采取保護措施。當被檢測電源發生開路造成失去電壓或負載電路短路造成電壓過低時，r6上端電壓降低，通過r2使檢測管vt1基極電壓低于發射極電壓，檢測管vt1導通，其導通后的發射極變為低電平，電壓通過隔離電阻r4，將微處理器的“pro”引腳拉為低電平，微處理器判斷被檢測電路發生失壓故障，進入保護狀態。
　　
　　下圖(c)集電極c或微處理器的“pro”引腳為測試點。正常時為vt1的集電極c為低電平，檢測到失壓故障時，集電極c變為高電平。微處理器的“pro”引腳正常時為高電平，檢測到失壓故障時，變為低電平。