彩电高压电源失压检测电路如下图所示。该电路为单路电压欠压、失压检测电路，大多用到电压较高的被检测电路中。在下图(a)电路中，被检测电压通过r5、r6分压电路，接到pnp检测管vt1的基极；被检测电压正常时，r6上端电压高于检测管的发射极电压，通过r2加到检测管的基极，检测管vt1截止，不向电压翻转电路送启动触发电压；当被检测电源发生开路造成失去电压或负载电路短路造成电压过低时，r6上端电压降低，通过r2使检测管vt1基极电压低于发射极电压，检测管vt1导通，其导通后的集电极c电压通过隔离电阻r4，将电压加到电压翻转电路，致使保护电路动作，进入保护状态。
　　
　　在下图(b)电路中，被检测电压通过r5、r6分压电路，接到pnp检测管vt1的基极，其发射极接微处理器的“pro”引脚。被检测电压正常时，r6上端电压高于检测管的发射极电压，通过r2加到检测管的基极，检测管vt1截止，vt1的发射极为高电平，微处理器的“pro”引脚保持高电平，不采取保护措施。当被检测电源发生开路造成失去电压或负载电路短路造成电压过低时，r6上端电压降低，通过r2使检测管vt1基极电压低于发射极电压，检测管vt1导通，其导通后的发射极变为低电平，电压通过隔离电阻r4，将微处理器的“pro”引脚拉为低电平，微处理器判断被检测电路发生失压故障，进入保护状态。
　　
　　下图(c)集电极c或微处理器的“pro”引脚为测试点。正常时为vt1的集电极c为低电平，检测到失压故障时，集电极c变为高电平。微处理器的“pro”引脚正常时为高电平，检测到失压故障时，变为低电平。

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