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如何開(kāi)機(jī)時(shí)多次執(zhí)行內(nèi)存檢測(cè)
★★★★★【文章導(dǎo)讀】：如何開(kāi)機(jī)時(shí)多次執(zhí)行內(nèi)存檢測(cè)具體內(nèi)容是：我的電腦在開(kāi)機(jī)時(shí)總是多次執(zhí)行內(nèi)存檢測(cè)，十分浪費(fèi)時(shí)間，請(qǐng)問(wèn)有什么辦法能減少檢測(cè)次數(shù)？一個(gè)方法是在檢測(cè)是按ESC鍵跳過(guò)檢測(cè)步驟。另一個(gè)方法是在BIOS中將多次檢測(cè)的參數(shù)取消，具體方法是：（1）在開(kāi)機(jī)后按Del鍵進(jìn)入B…
來(lái)源： 日期：2013-10-23 19:25:43 人氣：標(biāo)簽：
我的電腦在開(kāi)機(jī)時(shí)總是多次執(zhí)行內(nèi)存檢測(cè)，十分浪費(fèi)時(shí)間，請(qǐng)問(wèn)有什么辦法能減少檢測(cè)次數(shù)？
一個(gè)方法是在檢測(cè)是按ESC鍵跳過(guò)檢測(cè)步驟。另一個(gè)方法是在BIOS中將多次檢測(cè)的參數(shù)取消，具體方法是：
（1）在開(kāi)機(jī)后按Del鍵進(jìn)入BIOS設(shè)置。
（2）在主界面中選擇BIOS FEATURS SETUP項(xiàng)，將其中的Quick Power On Self Test設(shè)為 Enabled。
（3）按F10鍵后選擇保存退出即可。
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